ICS35.040 CCSL80 中华人民共和国国家标准 GB/T32915—2026 代替GB/T32915—2016 网络安全技术 二元序列随机性检测方法 Cybersecuritytechnology—Randomnesstestmethodsforbinarysequence 2026-05-25发布 2026-12-01实施 国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会发布目 次 前言 Ⅲ ………………………………………………………………………………………………………… 1 范围 1 ……………………………………………………………………………………………………… 2 规范性引用文件 1 ………………………………………………………………………………………… 3 术语和定义 1 ……………………………………………………………………………………………… 4 符号 2 ……………………………………………………………………………………………………… 5 随机性检测 3 ……………………………………………………………………………………………… 6 随机性检测判定 12 ………………………………………………………………………………………… 附录A(规范性) 样本长度及检测设置 14 ………………………………………………………………… 附录B(资料性) 随机性检测原理 16 ……………………………………………………………………… 附录C(资料性) 随机性检测结果示例 23 ………………………………………………………………… 参考文献 27 …………………………………………………………………………………………………… ⅠGB/T32915—2026前 言 本文件按照GB/T1.1—2020《标准化工作导则 第1部分:标准化文件的结构和起草规则》的规定 起草。 本文件代替GB/T32915—2016《信息安全技术 二元序列随机性检测方法》,与GB/T32915— 2016相比,除结构调整和编辑性改动外,主要技术变化如下: a) 增加了术语“样本集”及其定义(见3.6),删除了术语“随机数发生器”及其定义(见2016年版的 2.2); b) 增加了符号αT、Q_value的说明(见第4章),删除了符号H0、Ha的说明(见2016年版的第3 章),更改了符号α、P_value的说明(见第4章,2016年版的第3章); c) 增加了Q_value的计算步骤(见5.2~5.16); d) 更改了游程分布检测的检测步骤(见5.7.2,2016年版的4.6.2、附录A的A.6); e) 增加了块内最大“0”游程检测模式(见5.8); f) 增加了后向累加和检测模式(见5.12); g) 更改了离散傅里叶检测方法在计算统计值V时使用的参数(见5.16.2,2016年版的4.15.2); h) 增加了对Q_value的样本分布均匀性判定要求(见第6章),将“随机数发生器的检测”更改为 “随机性检测判定”(见第6章,2016年版的第5章); i) 增加了“样本长度及检测设置”(见附录A)。 请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。 本文件由全国网络安全标准化技术委员会(SAC/TC260)提出并归口。 本文件起草单位:商用密码检测认证中心、中国科学院软件研究所、中国科学院信息工程研究所、兴 唐通信科技有限公司、清华大学、北京海泰方圆科技股份有限公司、安徽问天量子科技股份有限公司、北 京宏思电子技术有限责任公司、北京银联金卡科技有限公司、中电科网络安全科技股份有限公司、鼎铉 商用密码测评技术(深圳)有限公司、中国电子信息产业集团有限公司第六研究所、智巡密码(上海)检测 技术有限公司、北京中电华大电子设计有限责任公司、中电信量子信息科技集团有限公司、郑州信大捷 安信息技术股份有限公司、华为技术有限公司、深圳市纽创信安科技开发有限公司。 本文件主要起草人:毛颖颖、雷银花、陈华、范丽敏、马原、孙晓峰、贾文义、罗鹏、曹伟琼、贾珂婷、 罗影、凌杰、刘婧婧、张文婧、张贺、李亚威、李峥、牛路宏、邓开勇、张运理、吕娜、陈天宇、侯庆良、王提、 李昆桦、黄佩达、纪爽、张雪、李寅霜、吕竹青、王紫涵、赵礼鹏、蓝建春、凌杭、胡之斐、王龙、王子涛、匡云、 陈启明、刘戬、刘勇、朱迪、梁松涛、曾光、王宗岳、刘晨、邹超。 本文件及其所代替文件的历次版本发布情况为: ———2016年首次发布为GB/T32915—2016; ———本次为第一次修订。 ⅢGB/T32915—2026网络安全技术 二元序列随机性检测方法 1 范围 本文件描述了二元序列的随机性检测方法,包括检测目的、检测步骤、参数设置和结果判定。 本文件适用于网络安全领域二元序列随机性检测。 2 规范性引用文件 本文件没有规范性引用文件。 3 术语和定义 下列术语和定义适用于本文件。 3.1 二元序列 binarysequence 由“0”和“1”组成的比特串。 注:简称“序列”。 3.2 随机性假设 randomnesshypothesis 关于待检二元序列随机性的假设,可基于随机性检测结果来选择接受或拒绝该假设。 注:本文件假设待测二元序列是随机的,称为原假设或零假设。 3.3 随机性检测 randomnesstest 用于二元序列检测的一个函数或过程,其结果用以判断是否接受原假设。 3.4 显著性水平 significancelevel 随机性检测中,当原假设为真时,错误地拒绝原假设的概率。 3.5 样本 sample 用于随机性检测的二元序列。 注:也称为“待检序列”。 3.6 样本集 samplegroup 多个样本的集合。 3.7 样本长度 samplelength 样本的比特个数。 1GB/T32915—20263.8 样本数量 samplesize 样本集中的样本个数。 3.9 检测参数 testparameter 随机性检测需要设定的参数。 3.10 游程 run 序列中前导与后继元素都与其本身的元素不同的由连续的“0”或者“1”组成的子序列。 4 符号 下列符号适用于本文件。 d:自相关检测中序列逻辑左移的位数 K:通用统计检测中待检序列L位子序列个数 L:通用统计检测中子序列长度 Li:线性复杂度检测中子序列的线性复杂度 M:矩阵秩检测中矩阵的行数 m:子序列的比特长度 N:一个待检测的n比特序列中m位子序列的个数 n:待检二元序列的比特长度 Q:矩阵秩检测中矩阵的列数,或者是通用统计检测中初始序列L位子序列的个数 V:统计值 α:用于样本通过率检测的显著性水平 αT:用于样本分布均匀性检测的显著性水平 ε:待检二元序列 ε':在ε的基础上按照一定的规则产生出的新序列 εi:待检二元序列第i比特的数值 π:待检二元序列中1的比例 ∑:求和符号 ApEn(m):待检二元序列的近似熵 erfc:余误差函数(ComplementaryErrorFunction) igamc:不完全伽玛函数(IncompleteGammaFunction) ln(x):x的自然对数 log2(x):以2为底的x的对数 max:从若干个元素中取最大值 min:从若干个元素中取最小值 modulus(x):用来计算复系数x模值的运算 P_value:一种衡量样本随机性好坏的度量指标,用于样本通过率判定 Q_value:一种衡量样本随机性好坏的度量指标,用于样本分布均匀性判定 x :不大于x的最大整数 Xi:2εi-1 Vn(obs):待检二元序列中游程的总数 2GB/T32915—2026