ICS31.080 L 53 SJ 备案号：52039-2015 中华人民共和国电子行业标准 SJ/T2658.122015 代替SJ/T2658.12—1986 半导体红外发射二极管测量方法 第12部分：峰值发射波长和光谱辐射带宽 Measuringmethodfor semiconductorinfrared-emittingdiode Part12:Peak-emissionwavelengthandspectralradiantbandwidth 2015-10-10发布 2016-04-01实施 发布 中华人民共和国工业和信息化部 SJ/T2658.12—2015 前言 SJ/T2658《半导体红外发射二极管测量方法》已经或计划发布以下部分： 第1部分：总则； 第2部分：正向电压； 第3部分：反向电压和反向电流； 第4部分：总电容； 第5部分：串联电阻 AND 第6部分：辐射功 第7部分： 第8部分： 第9部分 福射强度空间分布天 强度角； 第10 调制带贸 第11 应时 第12 峰值发 长和光谱辐射带宽； 第13 部分 辐射功 温度系数 第14音 结温； 部分： 第15 热阻： 部分： 第16 光电转换效 部分 本部分为 SJ658 的第12部分。 本部分按照GBT 标准的结构和编写》 给出的规则起草。 本部分代替SJA 38.12—1986《半导体红外发光二极管测试方法蜂值波长和光谱半宽度的测试 方法》，除编辑性修改主要技术变化如下： 修改了峰值发射波长和光谱辐射带宽的测量原理图（见图） 细化了峰值发射波长和光谐辐射带宽的测量步骤（见5.2 补充了峰值发射波长和光谱辐射带宽测量方法的规定条件 请注意本文件的某些内容可能涉及专利本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任。 本部分由工业和信息化部电子工业标准化研究院归口。 本部分起草单位：工业和信息化部电子工业标准化研究院。 本部分主要起草人：张戈、赵英。 本部分所代替标准的历次版本发布情况为： SJ/T2658.12—1986。 SJ/T2658.12—2015 半导体红外发射二极管测量方法 第12部分：峰值发射波长和光谱辐射带宽 1范围 本部分规定了半导体红外发射二极管（以下简称器件）峰值发射波长和光谱辐射带宽的测量原理图、 测量步骤以及规定条件。 本部分适用于半导体红外发射 极算ND 规范性引用文件 下列文件对于 凡是不注日期的引 用文件 其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件 SJ/T2658. 体红外发射 第1部分： OF 术语和定 下列术语 3.1 峰值发射波长 ak-emission 在规定的正 电流下，器件的光谱辐射分布曲线上最大辐射功率所对应的波长。 3. 2 光谱辐射带宽 spectralradiantbandwidth 长之差。 4一般要求 测量峰值发射波长和光谱辐射带宽的一般要求应符合SJ/T2658.1的规定。 5测量方法 5.1方法I- 单色仪法 5.1.1测量原理图 采用单色仪法测量峰值发射波长和光谱辐射带宽的原理图见图1。 1 SJ/T2658.12—2015 D; D,D; L 说明： DUT 被测器件"； L 聚焦透镜系统； -电流源； A -电流表； D2,D, 消除杂散光光阑； M 单色仪”； RM 一包括光阑D，的辐射探测系统。 注：若存在器件光谱特性空间分布不均匀，导致测量重复性差，可采用被测器件置于积分球内的形式。 “应尽量减少反射入被测器件内的辐射功率，以避免由于失真而影响测量准确度。 b单色仪的波长分辨率和带宽应能保证足够的测试准确度；如果单色仪的光谱透过率和辐射探测系统的光谱响应度 在要求的波长范围内不是常数，则应修正记录的测量数据 图1单色仪法测量峰值发射波长和光谱辐射带宽的原理图 5.1.2 2测量步骤 采用单色仪法测量峰值发射波长和光谱辐射带宽按下列步骤进行： 按图1连接测量系统，使正向电流为规定值； b) 在光谱范围内按规定间隔调整单色仪的波长，通过辐射探测系统读出每个波长读数及相应的光 谱辐射功率，获得被测器件的光谱辐射功率分布（见图2）； 光谱辐射功率分布中最大辐射功率Pp对应的波长即为峰值波长Ap： (P 设最大辐射功率Pp的规定百分比为α%，α%Pp所对应的波长为,和22，两者之差△即为光 谱辐射带宽。 2 SJ/T2658.12—2015 光谱辐射功率 T PP a%Pp ^; Ap 12 波长 注：为便于测量，光谱辐射功率分布曲线纵轴可以“相对光谱辐射功率”表示，即各波长点所对应辐射功率与峰值 波长辐射功率的比值，曲线峰值可用100%表示。 图2光谱辐射功率分布 5.1.3规定条件 有关标准采用本方法时，应规定以下条件： 环境或管壳温度； a) b) 正向电流F（直流或脉冲）； 单色仪波长的调整间隔； c) d) 最大辐射功率的规定百分比α%。 2方法I——光谱仪法 5. 2 5.2.1 测量原理图 采用光谱仪法测量峰值波长和光谱辐射带宽的原理图见图3。 3 SJ/T2658.12—2015 探测头 积分球： DUT 遮光屏 说明： DUT- 被测器件： 电流源； A 电流表： Mo 光谱仪 多次反射，在球壁产生与辐射功率成比例的均匀光 统的探测头位于 ·被测器件、速大 光晟以及 光谱仪的探测头与积分球相比 表面积应该小很多 内壁和遮光 应有一层高均匀 屏 度、高反射 于0.8）的漫反射镀层。球 光谱仪组合 应校准 考虑到峰值 长和辐射功率由 于功率消耗产 生的变化 应修正记录的测 量数据。 图3 光谱仪法测量峰值发射波长和光谱辐射带宽的原理图 5.2.2 测量步骤 采用光谱仪法测量峰值发射 按图3连接测量系统，使正向电流为规定值 a) 调节光谱仪在所需波段内扫描，获取被测器件的光谱辐射功率分布，最大辐射功率所对应的波 b) 长就是峰值发射波长p： 选取峰值波长辐射光功率Pp的规定百分比所对应的两个波长和^2，两者之差即为光谱辐射 带宽。 5.2.3 规定条件 有关标准采用本方法时，应规定以下条件： 环境或管壳温度； a) b) 正向电流I（直流或脉冲）： c) 最大辐射功率的规定百分比。 4 SJ/T 2658 12—2015 中华人民共和国 电子行业标准 半导体红外发射二极管测量方法 第12部分：峰链发射波长和光谱辐射带宽 SJ/T 2658.12—2012