(19)国家知识产权局 (12)发明 专利申请 (10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请 号 202210489085.9 (22)申请日 2022.05.07 (71)申请人 南通华钛电子科技有限公司 地址 226200 江苏省南 通市启东市吕四港 镇闸河村山本公司内 (72)发明人 彭海军　 (74)专利代理 机构 北京和信华成知识产权代理 事务所(普通 合伙) 11390 专利代理师 刘云艳 (51)Int.Cl. G06V 10/74(2022.01) G06V 10/82(2022.01) G06K 9/62(2022.01) G06N 3/04(2006.01) (54)发明名称 一种PCB电路板的质检方法及系统 (57)摘要 本发明公开了一种PCB电路板的质检方法及 系统， 包括以下步骤： 步骤S1、 对PCB生产线上设 定质检时钟， 并在质检时钟计时完成的时刻对位 于PCB生产线上的所有PCB电路板按生产进度划 分为多个质检簇； 步骤S2、 依次将质检簇内的所 有PCB电路板进行光学投影得到用于PCB电路板 图像质检的PCB质检投影， 并对位于同一质检簇 内的所有PCB质检投影进行互相的图像比对， 实 现在PCB生产线上对PCB电路板进行在线 粗检； 步 骤S3、 将粗检残缺品从所述生产线上提取出备 用， 并将粗检残缺品的PCB质检投影与标准品的 PCB质检进行图像比对， 并标记残缺区域。 本发明 实现生产过程中的及时止损， 同时在粗检残缺品 中筛选出细检残缺品标记出残 缺区域， 能够有效 的提高资源利用率， 节约生产成本 。 权利要求书4页 说明书9页 附图1页 CN 114758158 A 2022.07.15 CN 114758158 A 1.一种PCB电路板的质检方法， 其特 征在于： 包括以下步骤： 步骤S1、 对PCB生产线上设定质检时钟， 并在质检时钟计时完成的时刻对位于PCB生产 线上的所有PCB电路板按生产进度划分为多个质检簇， 所述质检簇用于将处于同一生产进 度的多个PCB电路板汇总至同一簇内； 步骤S2、 依次将质检簇内的所有PCB电路板进行光学投影得到用于PCB电路板图像质检 的PCB质检投影， 并对位于同一质检簇内的所有PCB质检投影进行互相的图像比对， 以实现 在位于同一质检簇内所有P CB质检投影中筛选出非常态投影， 并将非常态投影对应的P CB电 路板标记为 粗检残缺品， 实现在PCB生产线上对PCB电路板进行在线粗检； 步骤S3、 将粗检残缺品从所述生产线上提取出备用， 并将粗检残缺品的PCB质检投影与 标准品的PCB质检进行图像比对完成对粗检残缺品的粗检复核以及筛选出细检残缺品， 并 标记出细检残缺品的残缺区域， 实现对PCB电路板的离线细检。 2.根据权利 要求1所述的一种PCB电路板的质检方法， 其特征在于： 所述步骤S1中， 所述 质检时钟的设定方法包括： 将所述质检时钟k的计时周期设定为[1,X]， 将质检时钟的计时周期完成与质检簇划分 的次数一一对应， 其中， 所述次数一一对应表征为将所述质检时钟k从周期起点1计时到周 期终点X完成一个计时周期 同时对位于PCB生产线上的所有PCB电路板进行一次质检簇划 分； 所述周期终点X={  xl|l∈N+]}为动态量， 设定终点基准量为n， 并利用sigmoid函数进行 周期终点X的设定， 周期终点的动态关系式为 ， 式中，l为计量常 数， 无实质意义， N+表征为正整数， xl，xl+1分别表征为质检时钟处于第 l、l+1个计时周期的周 期终点； 其中， 所述质检时钟k从1计时到 完成计时周期 l后质检时钟k返回1继续计时到 完成计时周期 l+1。 3.根据权利 要求2所述的一种PCB电路板的质检方法， 其特征在于： 所述步骤S2中， 所述 非常态投影筛 选的方法包括： 在所述质检簇依次选取一个PCB电路板 i(i∈[1,M])对应的PCB质检投影Si分别与质检 簇中剩余的PCB电路板 j(j∈[1,M]∩ j≠i)对应的PCB质检投影Sj进行图像比对得到PCB质 检投影Si与质检簇的相似程度， 所述图像比对是利用PCB质检投影Si和Sj的图像相似度进 行 相似程度衡量， 所述图像相似度的计算公式为： ， 式中，Iij表征为PCB质检投影Si和Sj的图像相似度， m为PCB质检投影Si和Sj的像素点总 数目， M为质检簇中PCB电路板 的总数目， k，i，j为计量常数， 无实质含义， ak，bk分别表征为 PCB质检投影Si和Sj的第k个像素点的像素值， p(ak，bk)是ak和bk的联合概率分布函数， 而 p权　利　要　求　书 1/4 页 2 CN 114758158 A 2(ak)和p(bk)分别是ak和bk的边缘概率分布函数； 设定相似度阈值， 选取与PCB质检投影Si的图像相似度高于或等于相似度阈值的PCB质 检投影Sj， 统计PCB质检投影Sj的数量， 其中， 若PCB质检投影Sj的数量高于或等于90%M， 则PCB质检投影Si为常态投影； 若PCB质检投影Sj的数量低于90%M， 则PCB质检投影Si为非常态投影， 并将PCB电路板 i标 记为粗检残缺品 i#， 粗检残缺品 i#的非常态投影标记为Si#； 其中， 所述非常态投影映射至PCB电路板空间中表征PCB电路板为粗检残缺品， 所述常 态投影映射至PCB电路板空间中表征PCB电路板为 合格品。 4.根据权利 要求3所述的一种PCB电路板的质检方法， 其特征在于： 所述步骤S3中， 所述 细检残缺品的筛 选方法包括： 将所述粗检残缺品 i#对应的非常态投影标记为Si#与粗检残缺品 i#位于的质检簇q对应 的生产进度处标准品的PCB质检投影Sq进行图像比对得到非常态投影Si#与PCB质检投影Sq 的相似程度， 所述图像比对是利用非常态投影Si#和PCB质检投影Sq的图像相 似度进行相 似 程度衡量， 所述图像相似度的计算公式为： ， 式中， Ii# q表征为非常态投影Si#和PCB质检投影Sq的图像相似度， m为非常态投影Si#和 PCB质检投影Sq的像素点总数目， M 为质检簇中PCB电路板的总数目， k，i#为计量常数， 无实质 含义，ck，dk分别表征为非常态投影Si#和PCB质检投影Sq的第k个像素点的像素值， p(ck，dk) 是ck和dk的联合概率分布函数， 而 p(ck)和p(dk)分别是ck和dk的边缘概率分布函数； 将所述图像相似度Ii# q与所述相似度阈值比较， 从粗检残缺品 i#中判定出细检残缺品， 其中， 若图像相似度Ii# q高于或等于相似度阈值， 则粗检残缺品 i#为合格品， 将所述粗检残缺 品i#反标记为PCB电路板 i， 并将PCB电路板 i返回至对应质检簇中； 若图像相似度Ii# q低于相似度阈值， 则粗检残缺品 i#为细检残缺品， 将所述粗检残缺品 i#标记为细检残缺品 i*， 细检残缺品 i*的非常态投影标记为Si*。 5.根据权利要求4所述的一种PCB电路板的质检方法， 其特征在于： 所述残缺区域的标 记方法包括： 将所述细检残缺品 i*的非常态投影标记为Si*与所述PCB质检投影Sq进行逐个像素点的 相似度比对， 所述非常态投影标记为Si*与PCB质检投影Sq的像素点的相似度计算公式为： ， 式中， Ii* k表征为非常态投影Si*和PCB质检投影Sq的第k个像素点的像素相似度， m为非 常态投影Si*和PCB质检投影Sq的像素点总数目， k，i*,r为计量常数， 无实质含义， ekr，fkr分别 表征为非常态投影Si*和PCB质检投影Sq的第k个像素点的第 r个RGB通道像素值， p(ekr，fkr) 是ekr和fkr的联合概率分布函数， 而 p(ekr)和p(fkr)分别是ekr和fkr的边缘概率分布函数； 将所述像素相似度Ii* k与所述相似度阈值比较， 从细检残缺品 i*中判定出残缺区域， 其权　利　要　求　书 2/4 页 3 CN 114758158 A 3