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(19)国家知识产权局 (12)发明 专利申请 (10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请 号 202211416741.9 (22)申请日 2022.11.14 (71)申请人 中国中医科学院望京医院(中国中 医科学院骨伤科研究所) 地址 100102 北京市朝阳区望京中环南路6 号 (72)发明人 高景华 李建国 高春雨 冯敏山  李健  (74)专利代理 机构 天津合志慧知识产权代理事 务所(普通 合伙) 12219 专利代理师 张勇 (51)Int.Cl. G06F 30/20(2020.01) (54)发明名称 摇拔戳手法操作的评估方法、 装置、 电子设 备及存储介质 (57)摘要 本发明涉及医学信息技术领域, 特别涉及一 种摇拔戳手法操作的评估方法、 装置、 电子设备 及存储介质。 其中, 该方法包括: 获取由模拟操作 装置采集的待评估摇拔戳手 法操作, 待评估摇拔 戳手法操作包括至少三个待评估位移 ‑时间曲线 数据和至少三个待评估第一力 ‑时间曲线数据以 及一个待评估第二力 ‑时间曲线数据; 获取预先 设置好的目标摇拔戳手 法操作, 目标摇拔戳手 法 操作包括至少三个目标位移 ‑时间曲线数据和至 少三个目标第一力 ‑时间曲线数据以及一个目标 第二力‑时间曲线数据; 利用目标摇拔戳手法操 作对待评估摇拔戳手法操作进行评估, 以得到待 评估摇手法操作和待评估拔戳手法操作的评估 结果。 本发 明能够实现摇拔戳手 法操作的自动化 评估。 权利要求书3页 说明书10页 附图3页 CN 115470662 A 2022.12.13 CN 115470662 A 1.一种摇拔 戳手法操作的评估方法, 其特 征在于, 包括: 获取由模拟操作装置采集的待评估摇拔戳手法操作; 其中, 所述模拟操作装置包括用 于采集摇手法操作的至少三个位移传感器和至少三个第一力传感器以及用于采集拔戳手 法操作的一个第二力 传感器, 所述待评估摇拔戳手法操作包括用于表征待评估摇手法操作 的至少三个待评估位移 ‑时间曲线数据和至少三个待评估第一力 ‑时间曲线数据以及用于 表征待评估拔 戳手法操作的一个待评估第二力 ‑时间曲线数据; 获取预先设置好的目标摇拔戳手法操作; 其中, 所述目标摇拔戳手法操作包括用于表 征目标摇手法操作的至少三个目标位移 ‑时间曲线数据和至少三个目标第一力 ‑时间曲线 数据以及用于表征目标拔 戳手法操作的一个目标第二力 ‑时间曲线数据; 利用所述目标摇拔戳手法操作对所述待评估摇拔戳手法操作进行评估, 以得到所述待 评估摇手法操作和所述待评估拔 戳手法操作的评估结果。 2.根据权利要求1所述的方法, 其特征在于, 所述模拟操作装置包括底座、 与所述底座 固定的至少三个第一连接板、 与至少三个所述第一连接板固定的支撑板、 与所述支撑板连 接的仿脚踝组件以及与所述仿脚踝组件连接的鞋模, 每个所述第一连接板的一侧设置有一 个所述位移传感器, 另一侧设置有一个第一直线伺服电机, 每个所述第一直线伺服电机均 设置有沿竖直方向可伸缩的第一输出轴, 所述第一输出轴的末端与所述第一力 传感器的一 端连接, 所述仿脚 踝组件分别与所述位移传感器和所述第一力传感器的另一端连接, 所述 仿脚踝组件设置有所述第二力传感器; 所述待评估摇拔 戳手法操作是通过如下 方式采集的: 通过手持所述鞋模来带动所述仿脚踝组件做沿所述仿脚踝组件周向的往 复运动, 以产 生所述待评估摇手法操作; 其中, 在做沿所述仿脚踝组件周向的往复运动时, 基于所述位移 传感器和所述第一力传感器分别产生所述待评估位移 ‑时间曲线数据和所述待评估第一 力‑时间曲线数据; 通过手持所述鞋模来带动所述仿脚踝组件做沿所述仿脚踝组件轴向的伸缩运动, 以产 生所述待评估拔戳手法操作; 其中, 在做沿所述仿脚踝组件轴向的伸缩运动时, 基于所述第 二力传感器产生所述待评估第二力 ‑时间曲线数据。 3.根据权利要求1所述的方法, 其特征在于, 所述利用所述目标摇拔戳手法操作对所述 待评估摇拔 戳手法操作进行评估, 包括: 基于所述待评估位移 ‑时间曲线数据和所述目标位移 ‑时间曲线数据, 确定第 一曲线重 合度; 基于所述待评估第一力 ‑时间曲线数据和所述目标第 一力‑时间曲线数据, 确定第二曲 线重合度; 基于所述待评估第二力 ‑时间曲线数据和所述目标第 二力‑时间曲线数据, 确定第三曲 线重合度; 基于所述第一曲线重合度、 所述第二曲线重合度和所述第三曲线重合度, 对所述待评 估摇拔戳手法操作进行评估。 4.根据权利要求3所述的方法, 其特征在于, 所述基于所述待评估位移 ‑时间曲线数据 和所述目标位移 ‑时间曲线数据, 确定第一曲线重合度, 包括: 针对每个所述位移传感器, 执行如下操作: 确定当前位移传感器对应的所述待评估位权 利 要 求 书 1/3 页 2 CN 115470662 A 2移‑时间曲线 数据和所述目标位移 ‑时间曲线数据在各采样点的位移差; 计算每个采样点的 位移差与所述 目标位移 ‑时间曲线数据在当前采样点的位移的第一比值; 将第一比值小于 第一预设值的采样点记作第一目标采样点; 将所述第一目标采样点的个数与所有采样点的 个数的比值作为当前位移传感器对应的第一曲线重合度; 将所有所述位移传感器分别对应的第一曲线重合度的平均值作为最终的第一曲线重 合度。 5.根据权利要求3所述的方法, 其特征在于, 所述基于所述待评估第一力 ‑时间曲线数 据和所述目标第一力 ‑时间曲线数据, 确定第二曲线重合度, 包括: 针对每个所述第一力传感器, 执行如下操作: 确定当前第一力传感器对应的所述待评 估第一力 ‑时间曲线 数据和所述目标第一力 ‑时间曲线 数据在各采样点的力差; 计算每个采 样点的力差与所述 目标第一力 ‑时间曲线数据在当前采样点的力的第二比值; 将第二比值 小于第二预设值的采样点记作第二目标采样点; 将所述第二目标采样点的个数与所有采样 点的个数的比值作为当前第一力传感器对应的第二曲线重合度; 将所有所述第一力传感器分别对应的第二曲线重合度的平均值作为最终的第二曲线 重合度。 6.根据权利要求3所述的方法, 其特征在于, 所述基于所述待评估第二力 ‑时间曲线数 据和所述目标第二力 ‑时间曲线数据, 确定第三曲线重合度, 包括: 确定所述待评估第二力 ‑时间曲线数据和所述目标第二力 ‑时间曲线数据在各采样点 的力差; 计算每个采样点的力 差与所述目标第 二力‑时间曲线数据在 当前采样点的力的第 三比 值; 将第三比值小于第三预设值的采样点记作第三目标采样点; 将所述第三目标采样点的个数与所有采样点的个数的比值作为第三曲线重合度。 7.根据权利要求3 ‑6中任一项所述的方法, 其特征在于, 所述基于所述第一曲线重合 度、 所述第二曲线重合度和所述第三曲线重合度, 对所述待评估摇拔戳手法操作进 行评估, 包括: 在所述第一曲线重合度大于第一预设重合度且所述第二曲线重合度大于第二预设重 合度时, 所述待评估摇手法操作合格; 否则, 所述待评估摇手法操作不 合格; 在所述第 三曲线重合度 大于第三预设重合度时, 所述待评估拔戳手法操作合格; 否则, 所述待评估拔 戳手法操作不 合格。 8.一种摇拔 戳手法操作的评估 装置, 其特 征在于, 包括: 第一获取模块, 用于获取由模拟操作装置采集的待评估摇拔戳手法操作; 其中, 所述模 拟操作装置包括用于采集摇手法操作的至少三个位移传感器和至少三个第一力传感器以 及用于采集拔戳手法操作的一个第二力传感器, 所述待评估摇拔戳手法操作包括用于表征 待评估摇手法操作的至少三个待评估位移 ‑时间曲线数据和至少三个待评估第一力 ‑时间 曲线数据以及用于表征待评估拔 戳手法操作的一个待评估第二力 ‑时间曲线数据; 第二获取模块, 用于获取预先设置好的目标摇拔戳手法操作; 其中, 所述目标摇拔戳手 法操作包括用于表征目标摇手法操作的至少三个目标位移 ‑时间曲线 数据和至少三个目标 第一力‑时间曲线数据以及用于表征目标拔 戳手法操作的一个目标第二力 ‑时间曲线数据;权 利 要 求 书 2/3 页 3 CN 115470662 A 3

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专利 摇拔戳手法操作的评估方法、装置、电子设备及存储介质 第 1 页 专利 摇拔戳手法操作的评估方法、装置、电子设备及存储介质 第 2 页 专利 摇拔戳手法操作的评估方法、装置、电子设备及存储介质 第 3 页
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